纳米材料的测试与表征
RD；
n质谱分析：主要包括电感耦合等离子体质谱ICP-MS和飞行时间二次离子质谱法TOF-SIMS
n能谱分析：主要包括X射线光电子能谱XPS和俄歇电子能谱法AES
体相成分分析方法
纳米材料的体相元素组成及其杂质成分的分析方法包括原子吸收原子发射ICP，质谱以及X射线荧光与衍射分析方法；其中前三种分析方法需要对样品进行溶解后再进行测定，因此属于破坏性样品分析方法。而X射线荧光与衍射分析方法可以直接对固体样品进行测定，因此又称为非破坏性元素分析方法。
中科易朔材料分析研发中心
采用质谱法、光谱法、色谱法、热分析法等多种科学分析方法，对多组分复杂
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