你知道吗？IEC62321又更新啦
日期:2017-04-12 09:25
C 62321-3-1
电子产品中的铅、汞、镉、总铬和总溴的筛选
主要变化： 基本一致
● IEC 62321-3-2
使用C-IC对聚合物和电子产品中的总溴进行筛选
主要变化： 2013版增加了新的方法（C-IC）
● IEC 62321-4
使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子材料中的汞
主要变化：2013版增加了新的方法（热解析金汞齐化系统）
● IEC 62321-5
使用AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物和电子材料中的汞、镉、铅和铬，以及金属中的镉和铅
主要变化：2013版增加了总铬的测试要求及新的检测方法（AFS）
2015年
● IEC 62321-6
使用GC-MS
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